荧光光谱仪-光谱系统-仪器设备-生物在线

日本理学X射线荧光光谱仪+ZSX Primus III

ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方,zei大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。

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日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪

日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立(SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX,膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X)SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管,实

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矿石分析仪 手持式矿石检测仪

STA4000A矿石分析仪在采矿行业中,标准检验分析的矿石元素包括:钛,钒,铬,锰,铁,钴,镍,铜,锌,铷,锶,锆,铌,钼,银,锡,锑,钽,铪,钨,铅,铋等。

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深圳X荧光光谱仪,深圳rohs检测仪

测量元素:从硫到铀等 75 种元素 元素含量分析范围:1ppm-99.99 RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检测限高达 1ppm 测量时间:60-300s 能量分辨率:165±5eV 管压:5-50 kV 管流:50-1000μA

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能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE

EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。

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X-MET7000系列手持式矿物分析光谱仪

快速/坚固/可靠,超一流的分析工具,表现更出色!X射线荧光(XRF)分析是全世界认可的有效快速鉴定矿山中关键矿物质成分的方法。其速度、灵活性和操作简单的特点使之成为当今专业采矿人员和矿物质学家的首选工具。X-MET7000系列手持式分析仪提供坚固的现场分析,适用于恶

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原子荧光光谱仪

测试元素 As Sb Bi Pb Zn Te Se Zn Ge Cd Hg 检出限(DL)ng/mL <0.01 <1.0 <0.05 <0.001 重复性(RSD) <0.9 线性范围 大于三个数量级 道间干扰 0

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手提式合金分析光谱仪

X-MET&nbsp;手持式&nbsp;X&nbsp;射线荧光光谱仪专为以下应用而设计: 材料可靠性鉴定(PMI)&nbsp; 金属鉴定/废旧金属分拣&nbsp; 合金分析及有害物质分析(RoHS筛选)&nbsp; 受污染土壤重金属分析及采矿现场矿石分析&nbsp; 玩具中含铅筛选&nbsp; 涂料中铅检测&nbsp;

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X-MET7000系列涂料分析光谱仪

新型的高分辨率触摸屏界面快捷简单的操作,只需简单的培训即使戴上手套,大图标显示也非常容易操作大量的牌号库提供接近的匹配信息市面上大的4.3&quot;显示屏,让您可以更清楚地看到分析结果明亮、高对比度的高级Blanview液晶显示触摸屏,用户界面支持13种语言

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